DCM 8

Sistema de metrología óptica de superficies 3D Leica DCM8

Diseñado para ayudarle a maximizar la eficiencia, Leica DCM8 aúna las ventajas de la microscopía confocal de alta definición con la interferometría en un versátil sistema dual. Análisis ultrarrápidos garantizados gracias a la selección de modos con un clic, el sofisticado software y el escáner confocal HD sin piezas móviles. No importa si trabaja en producción o investigación, Leica DCM8 ofrece los resultados de análisis metrológicos precisos y repetibles que necesita para optimizar el rendimiento de sus materiales.